Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů
DSpace Repository
- DSpace Home
- Kvalifikační práce dle fakult
- Fakulta technologická
- Ústav výrobního inženýrství
- Bakalářské práce
- View Item
Language:
English čeština
Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů
No preview available
| Title: | Možnosti využití 2D a 3D skenovacích metod pro snímání povlakovaných povrchů |
| Author: | Jemelka, Jakub |
| Advisor: | Kubišová, Milena |
| Abstract: | V této práci jsou popsány základní parametry jakosti povrchu vhodné pro výpočet korelací, včetně teoretického popisu i matematických vzorců. Další část se věnuje matematickému principu korelace. |
| URI: | http://hdl.handle.net/10563/38064 |
| Date: | 2016-01-08 |
| Availability: | Bez omezení |
| Department: | Ústav výrobního inženýrství |
| Discipline: | Technologická zařízení |
| Grade for thesis and defense: | B
|
Citace závěřečné práce
Files in this item
| Files | Size | Format | View | Description |
|---|---|---|---|---|
| jemelka_2016_dp.pdf | 3.629Mb |
View/ |
None | |
| jemelka_2016_op.pdf | 512.8Kb |
View/ |
None | |
| jemelka_2016_vp.pdf | 520.7Kb |
View/ |
None |
This item appears in the following Collection(s)
-
Bakalářské práce [1178]
