Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu

Repozitář DSpace/Manakin

Jazyk: English čeština 

Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu

Zobrazit celý záznam

Není dostupný náhled
Název: Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu
Autor: Čechmánek, Michal
Vedoucí: Navrátil, Milan
Abstrakt: Tato diplomová práce se zabývá měřením kontaktního potenciálu na vybraném povrchu pomocí skenovacího mechanismu. Byla především zaměřena na sestrojení vhodné aparatury použitelné pro měření kontaktního potenciálu na různých předmětech a papilárních linií, které se vyskytují na pokožce z vnitřní strany u článků prstů. V praktické části jsou popsány měřicí experimenty na sestavené aparatuře.
URI: http://hdl.handle.net/10563/10635
Datum: 2009-05-22
Dostupnost: Pouze v rámci univerzity
Ústav: Ústav elektrotechniky a měření
Studijní obor: Bezpečnostní technologie, systémy a management
Klasifikace závěřečné práce a její obhajoby: C 11576


Citace závěřečné práce

Soubory tohoto záznamu

Soubory Velikost Formát Zobrazit
čechmánek_2009_dp.pdfZablokované 2.113Mb PDF
čechmánek_2009_vp.pdf 428.6Kb PDF Zobrazit/otevřít
čechmánek_2009_op.pdf 617.7Kb PDF Zobrazit/otevřít

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit celý záznam

Find fulltext

Prohledat DSpace


Procházet

Můj účet