Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu
Zobrazit celý záznam
Není dostupný náhled
Název:
|
Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu |
Autor: |
Čechmánek, Michal
|
Vedoucí: |
Navrátil, Milan
|
Abstrakt:
|
Tato diplomová práce se zabývá měřením kontaktního potenciálu na vybraném povrchu pomocí skenovacího mechanismu. Byla především zaměřena na sestrojení vhodné aparatury použitelné pro měření kontaktního potenciálu na různých předmětech a papilárních linií, které se vyskytují na pokožce z vnitřní strany u článků prstů. V praktické části jsou popsány měřicí experimenty na sestavené aparatuře. |
URI:
|
http://hdl.handle.net/10563/10635
|
Datum:
|
2009-05-22 |
Dostupnost:
|
Pouze v rámci univerzity |
Ústav:
|
Ústav elektrotechniky a měření |
Studijní obor:
|
Bezpečnostní technologie, systémy a management |
Klasifikace závěřečné práce a její obhajoby:
|
C
11576
|
Citace závěřečné práce
Soubory tohoto záznamu
Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích
Zobrazit celý záznam
Prohledat DSpace
Procházet
-
Vše v DSpace
-
Tato kolekce
Můj účet