Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu
Show full item record
No preview available
Title:
|
Zjišťování vybraných povrchových struktur pomocí skenovacího mechanismu a měření kontaktního potenciálu, jejich aplikace v bezpečnostním průmyslu |
Author: |
Čechmánek, Michal
|
Advisor: |
Navrátil, Milan
|
Abstract:
|
Tato diplomová práce se zabývá měřením kontaktního potenciálu na vybraném povrchu pomocí skenovacího mechanismu. Byla především zaměřena na sestrojení vhodné aparatury použitelné pro měření kontaktního potenciálu na různých předmětech a papilárních linií, které se vyskytují na pokožce z vnitřní strany u článků prstů. V praktické části jsou popsány měřicí experimenty na sestavené aparatuře. |
URI:
|
http://hdl.handle.net/10563/10635
|
Date:
|
2009-05-22 |
Availability:
|
Pouze v rámci univerzity |
Department:
|
Ústav elektrotechniky a měření |
Discipline:
|
Bezpečnostní technologie, systémy a management |
Grade for thesis and defense:
|
C
11576
|
Citace závěřečné práce
Files in this item
This item appears in the following Collection(s)
Show full item record
Search DSpace
Browse
-
All of DSpace
-
This Collection
My Account